IR-SNOM

SNOM (optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, near field scanning optical microscopy či NSOM) je mikroskopická technika, která překonává rozlišovací limit díky vlastnostem tlumených vln. Vzdálenost detektoru a vzorku je při měření menší než vlnová délka světla a v optické mikroskopii se používá mimo jiné pro svou schopnost zvýšit kontrast nanočástic.

Tato metoda je vhodná např. pro studium indexu lomu, zjišťování chemické struktury, sledování mechanické deformace, mapování povrchů (AFM) a rozložení náboje nebo charakterizaci hot spotů (SERS). Pro větší variabilitu experimentů je k dispozici také systém cryo-neaSNOM pro měření v kryogenických podmínkách nebo širokopásmový laser schopný excitace v rozsahu 5 – 15 μm.

Hlavní analytické aplikace IR mikroskopie v blízkém poli:

Příklad IR-SNOM mapování PMMA/PS polymer blendu

Nicolet CZ v této oblasti spolupracuje s německou společností Neaspec. Pomocí mikroskopů Neaspec s prostorovým rozlišením až 10 nm je možné provádět mapovací měření od viditelné až po terahertzovou oblast, včetně přímého získávání FT-IR spekter.