Raman-AFM

Ramanova spektroskopie a Mikroskopie atomárních sil (AFM: Atomic Force Microscopy) jsou komplementární metody podávající informaci o povrchu zkoumaných materiálů. Ramanova spektroskopie (resp. mikrospektroskopie), pomocí měření molekulárních vibrací, podává informace o chemickém složení a morfologii daného materiálu. AFM pak informuje o strukturálních a topografických vlastnostech povrchu materiálu v jednotkách nanometrů. Spojení Raman-AFM je tedy logickým řešením pro materiálové inženýrství, popř. další obory zkoumající povrchy různých materiálů.

Naše řešení tohoto spojení poskytuje v jednom měření esenciální informace o topografii (a další informace o povrchu materiálu) v těsném spojení s detailním rozborem chemického složení zkoumaného povrchu (včetně jeho morfologie). Kombinace DXR2 Ramanova mikroskopu a NT-MDT Ntegra Spectra AFM mikroskopu poskytuje integrované, flexibilní a uživatelsky přívětivé spojení, jehož cílem je rychlá maximalizace porozumění zkoumaným materiálům v rádu nanometrů.

Raman-AFM kombinace těchto dvou zákaznicky prověřených systémů poskytuje (ve spojení s uživatelsky nenáročným software) komplexní analytické řešení pro vědeckou i rutinní analýzu:

DXR2 Raman Microscope: vysoce výkonný a variabilní systém (excitační lasery, mřížky, možnost polarizace atd.)
Speciální software pro komplementární Raman-AFM analýzu
Velký výběr excitačních laserů + kontrola výkonu excitačního laseru na vzorku s velkou přesností
Jednoduchá implementace metody TERS
Vysoce výkonná, variabilní možnost SPM (Scanning Probe Microscopy) pro široké rozmezí metod a vzorků

DXR Raman Microscope lze samozřejmě kombinovat i s jinými výrobci AFM mikroskopů( např. JPK, Nanonics atd.). Kompatibilita je zaručena.